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動態(tài)參數(shù)測試

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設(shè)備:半導(dǎo)體分立器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)ITC57300

廠商:ITC

用途:用于測試 Si/SiC/GaNDiode,IGBT,MOSFET動態(tài)交流參數(shù)

測試標(biāo)準(zhǔn):GJB 128B-20XX;IEC 60747-8-2010;MIL_STD_750F

技術(shù)指標(biāo):
1200V/100A,短路電流2500A

測試功能單元:
C57210-R 開關(guān)特性測試單元(阻性負(fù)載)
ITC57220 反向恢復(fù)特性測試單元
ITC57230 柵電荷特性測試單元(MOS
ITC57240 開關(guān)特性測試單元(感性負(fù)載)
ITC57250 短路特性測試單元


  • 地址:廣東省東莞市松山湖國家高新區(qū)總部一號12棟5樓

  • 電話:0769-33882377

  • 郵箱:nfjc@cwbg-nf.com

  • 傳真:0769-23078230

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